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激发光偏振对磁光克尔显微系统测试的影响在磁光克尔显微镜中,激发光通常需要经过偏振器件,以使得只有特定方向的偏振光可以进入样品。光偏振在MOKE显微镜中的一个主要影响是样品与光之间的相互作用。当偏振光照射到样品上时,光与样品中的电子和磁矩发生相互作用,从而导致光的偏振方向发生改变。这种改变可以通过MOKE显微镜中的光学元件和探测器进行精确测量,以获得有关样品磁性的信息。因此正确选择和控制光的偏振状态对于获得准确的测量结果至关重要。光偏振还可以影响MOKE显微镜的灵敏度和分辨率。不同的偏振方向的光与不同的样品的相互作用方式会有所不同,因此在对不同样品的测量中,在MOKE显微镜中选择合适的光偏振状态 ...
化, 且反射光偏振态的变化与局部杂散磁场的大小和方向有关,反射光经过检偏器后偏振态的变化就会以光强分布的形式呈现出来,再由成像系统接收后即可得到磁性材料表面的磁畴结构分布。磁光克尔成像法观测磁畴不仅可实现较高的空间分辨率,而且可实现较高的时间分辨率,因此可对外场作用下的磁性材料中的磁畴结构的动态变化进行实时观测。如果您对磁学测量有兴趣,请访问上海宝马bm555线路的官方网页:/three-level-150.html更多详情请联系宝马bm555线路/欢迎直接联系宝马bm555线路关于宝马bm555线路:宝马bm555线路是光电产品专业代理商,产品包括各类激光器、光电调制器、光 ...
射前和反射后光偏振状态变化。在衬底、入射角、波长等确定已知的条件下,Ψ、△是膜厚d和薄膜折射率n的函数,可表示为下式:由上式可知薄膜反射后,椭偏光偏振状态发生改变,成为另一种椭偏光。测量过程中,对起偏器方位角p进行调节,使得反射得到的椭偏光变成线性偏振光;再通过检偏器的方位角A调节,得到消光状态。此时,薄膜的厚度d与折射率n为起偏器方位角p和检偏器的方位角A的函数,可写成如下一般函数式为:对式(1-6)的处理是在没有具体函数的情况之下,利用(1-1)~(1-2)式,列出(P,A)~(d,n)的数表,再根据消光状态下得到的(P,A)值,找到相应膜厚d与其折射率n。通常消光状态有许多个,所以可以通 ...
向、入射面、光偏振面和磁化方向将克尔效应分为纵向、极性和横向三种类型。前两种效应导致光的偏振面旋转,可能由椭圆贡献叠加,而后一种效应导致振幅变化而不是反射光的旋转。作为一个简单的规则,由于克尔效应的介电张量的对称性,克尔对比度与入射光束沿传播方向的磁化分量成正比。如图1(a)所示,在斜入射光和p偏振光(纵向克尔效应)的情况下,反射光可以看作是规则反射振幅AN和克尔振幅AK的叠加,导致偏振面旋转(小)角(6)UK AK/AN。符号(6)取决于样品表面磁化的方向。然后,如图1(b)所示,通过分析仪阻挡来自一种域类型的反射光来产生域对比。对于垂直入射和垂直反射的光,根据上述规则(极性克尔效应),只有 ...
面上,显示了光偏振的轨迹。两个面外磁化畴对极化状态有不同的影响,如与畴颜色相同的箭头所示。在(c)中,法拉第旋转是指椭圆长轴的旋转。虽然法拉第旋转让人联想到光活性介质的圆双折射,但有一个重要的区别:如果光再次以相反的方向通过材料,在法拉第效应的情况下,旋转不会取消,而是会加倍。这种不可逆性的原因是法拉第旋转与磁化方向而不是光轴有关。磁化相对于传播方向的反转导致沿m轴的首xuan左圆形模式和右圆形模式的交换。相反的畴会因此导致法拉第旋转和椭圆性的逆转。根据上述论证,可以计算出复法拉第角为:对于极几何,法拉第旋转(θF)和椭圆度(ξF)由下式给出:其中l为材料的覆盖距离。如果平面内磁化材料在斜入射 ...
和衰减样品对光偏振状态的改变主要包括衰减、延迟以及退偏。线性双折射是指线偏光的两个正交分量的折射率差,圆偏光双折射是指左旋和右旋偏振光之间的折射率的差值。衰减则定义为偏振光zui大zui小透过率差值的比值。总之,有6个参数来表征非退偏样品的延迟和衰减特性,线性位相延迟器的大小,线性位相延迟器和圆偏光位相延迟器的快轴角度,线性衰减器的大小,线性位相衰减器和圆偏光衰减器的角度。(4)PEM光弹调制器是一种基于光弹效应的共振偏振调制器。光弹效应是由机械应力导致的透明介质固体中的线性双折射。光弹调制器发明于1960年。其中设计zui成功的光弹调制器包括了一个矩形的熔石英和一个有单晶石英制成的压电传感器 ...
纳米多孔薄膜的可调谐磁光克尔效应等离子体力学在高维数据存储、高灵敏度化学检测、生物传感等方面具有广泛的应用。这主要归因于表面等离子体传导光的亚衍射极限的能力,增强局部表面电磁场或允许在纳米尺度上定位光。据报道,金属纳米粒子的等离子体特性本质上取决于它们的尺寸、形状、表面形貌、晶体结构、粒子间间距和介电环境。等离子体动力学的一个发展是磁等离子体动力学。磁等离子体学促进了光子学和磁学领域的巨大兴趣,这些领域与光磁物质相互作用的共振增强有关,与纳米制造技术的快速发展有关(例如,纳米印记,光刻,物理气相沉积和微流体合成工艺)。磁等离子体力学的一个课题是增强磁光效应在等离子体纳米结构中的应用。纳米结构中 ...
件。根据入射光偏振、入射平面和样品磁化之间的矢量关系,这些类型可分为极性、纵向和横向克尔效应。图2显示了纵向情况下这些物理量之间的方向关系。图2为了检测从磁化表面反射引入光偏振态的变化,在光程中放置了一对近交叉的偏振器。入射光束上的线性偏振器将偏振限制在一个方向上。通过光与磁化表面的相互作用,产生与入射光束垂直的偏振分量。反射光束通过与入射光偏振器近交叉的分析器。这样,光与磁化表面相互作用后保持其原始偏振态的分量被衰减,而通过磁光(Kerr)相互作用产生的分量则被允许通过检测器。zui大衰减的入射光是实现当偏振光完全交叉,但克尔分量的光是非常弱的,将需要一个非常敏感的探测器。通过允许一些入射光 ...
器,定义入射光偏振的线性偏振器,位于可变磁场中的样品支架,分析仪和检测器。一般来说,整个光学系统的光噪声和电子噪声,包括光的产生和检测,决定了被测MOKE信号的质量。阐述了大量不同的MOKE测量方案,以提高信噪比。传统的方法是基于测量反射光强度通过分析仪失谐约4-7◦从消光位置。这个简单的方案保证了zui大可实现的信噪比,而不需要对给定的克尔旋转进行任何共模噪声抑制检测。使用Wollaston棱镜而不是标准的Glan-Taylor或GlanThomson分析仪,通常可以增强这种设置。用微分光学探测器测量正交偏振光和空间分离光。在这种测量方案中,通过手动或电动旋转沃拉斯顿棱镜来平衡信号。进一步的 ...
成像与mapping在微纳米磁学中的应用成像在微纳米磁学中的作用固体中的磁性是通过邻近原子的电子之间的量子力学交换在局部尺度上产生的。在铁磁体中,交换有利于平行电子自旋,空间磁性结构可以从非常简单到非常复杂。除了特殊的样品形状外,均匀磁化在与偶极子之间的远程相互作用相关的能量方面具有静磁成本。如果偶极子不完全平行,则能量可以zui小化,从而形成磁畴。各向异性效应有利于磁化取向沿着某些晶体学方向进一步复杂化的情况。这种竞争的本质可以用所谓的“交换长度”来概括,交换长度决定了磁化方向发生重要变化的zui小尺度,通常在纳米范围内。在非平衡状态下,过剩能量的存在会导致额外的复杂性,包括成核和区域的生长 ...
的偏振态,而光偏振态的变化与磁场的大小有关。根据光与磁光材料相互作用方式的不同以及光与磁光材料相互作用产生的光学各向异性,磁光效应又分为法拉第效应、磁线阵双折射、塞曼效应、磁光克尔效应等。(1)磁光法拉第效应磁光法拉第效应又称磁光旋光效应,是指当一束线偏振光从磁光材料沿磁场方向透射时,由于材料折射率的不同,磁光材料中的左旋和右旋偏振光,即偏振面相对于入射光的偏振面偏转一定角度的一种磁光现象。法拉第效应产生的根本原因是磁光材料中的电子等磁性粒子发生光学跃迁。在磁场的作用下,这种跃迁使得在磁光材料内部传输的左旋圆偏振光和右旋圆偏振光产生一定的色散差,导致zui终透射光的偏振面相对入射光旋转了一定角 ...
的磁化方向对光偏振方向有很强的依赖性,并且薄膜与背景反射率的比例很高。其他互补的表征技术,如反射高能电子衍射,通过指示外延生长,提供了对薄膜光学质量的进一步了解。x射线衍射研究表明材料是否具有晶体织构,因为通常需要具有高度织构且易于磁化轴垂直于薄膜的材料(图2)。图1图2在这一点上,应该强调的是,传统磁光薄膜的磁性是连续的,而其他磁性薄膜,如传统磁性记录磁带中使用的磁性薄膜,由于交换耦合,形成位的磁性颗粒彼此分离。因此,传统的磁光薄膜允许更高的存储密度,在薄膜上封装更多的比特。例如,在磁光记录的黄金年代,磁光盘薄膜上的数据存储标记由由约8 nm的磁壁隔开的磁畴组成,其中标记宽度约为170 nm ...
作用使得反射光偏振态发生变化,从而载有样品信息;反射光经过检偏器后变成线偏振光,通过显微成像系统,椭偏成像在 CCD 相机等图像传感器上;摄像机采集的模拟信号通过视频显示器显示,并进一步经图像采集卡进行A/D转换,转变成数字图像文件进入到计算机。通过计算机,对数字图像文件进行分析获得样品的信息。一束单色光投射在一各向同性且材质均匀的界面上,上半部分折射率为n1,下半部分折射率为n2,光会在界面处发生反射和折射,如下图所示。示意图 单色光在各向同性且材质均匀的界面上的反射和折射其中Eip、Erp和Etp分别为p光的入射、反射和折射电矢量,Eis、Ers和Ets分别为s光的入射、反射和折射电矢量, ...
传统的CD分光偏振仪进行CD测量成为一个耗时的过程,使用新的测试方式,使用垂直光路,可以直接从井板读取CD测量值。 圆二向色(CD)是指左右圆偏振光的吸收差,常用于手性分析。通常,它被用于测定不对称合成中的对映体纯度和分配蛋白质的二级结构,这两者都需要以高通量的方式进行测量的能力。EKKO™CD 酶标仪灵敏度使用垂直光路,可以直接从井板读取CD测量值。因此,1)将内容物从孔板的每个孔转移到比色皿中,2)在测量之间清洗比色皿的耗时过程已被消除,显著提高了生产率,与标准CD耦合到机器人相比提高了100倍。有效路径长度由井中溶液的上表面决定。此外,考虑到井中体积大小,半月板的存在也会影响CD测量结果 ...
,3)比较激光偏振计的测量结果与Exicor的测量结果,4)确定激光偏振计对低双折射测量的能力。以下部分将描述测量技术。2.激光偏振测定2.1仪器用穆勒矩阵激光(稳定CW hee @ 6328 Å)偏振计测量平板,采用双旋转缓速器配置。探测器连接到一个数字万用表,没有调制信号,也没有使用锁相放大。第一减速器在5°增量中旋转72次,而第二减速器在25°增量中旋转。本旋光计被设计并用于在施加或不施加电场和/或磁场的情况下测量块状材料的电光特性。得到了样品的完整穆勒矩阵。该方法的一个优点是测量不依赖于样品绕系统光轴的旋转方向。该系统不适合测量小双折射。事实上,这些测量是第一次使用该系统的小双折射样品 ...
。最简单的旋光偏振光计是由偏振片和交叉分析仪组成的。旋光性是在有手性样品和没有手性样品的分析仪上零位的角差。简单旋光式旋光计已用于制糖工业近两个世纪。在现代的偏振计中,偏振调制器,如Hinds Instruments生产的光弹性调制器(PEM),被用来提供高的测量灵敏度。图1显示了一个使用PEM测量光学旋转的简单设置。图1.光学旋转测量的光学台架设置如果光源是激光,光学设置就特别简单,因为不需要准直和聚焦透镜。光源后的第一偏光器应安装在精密旋转器中,以允许与PEM延迟轴精确对齐。对于这种配置(没有样品到位),在检测器上没有交流信号,但有直流信号。当插入一个样品并发生旋转时,一个电源频率(2f) ...
平置于使入射光偏振旋转0°和90°之间,这可通过在普克尔盒后方放置偏振片使光强处于最强(偏振方向与主轴同向)或最弱(消光,偏振方向与主轴夹角45°)来判断。简单介绍了横向普克尔盒电光调制器的基本工作原理,通过普克尔斯效应改变线偏振光的偏振方向,再通过检偏器达到调制的效果。如果您对横向普克尔盒电光调制器有兴趣,请访问上海宝马bm555线路的官方网页,或通过电话、电子邮件或者微信与我们联系。/details-501.html更多详情请联系宝马bm555线路/欢迎直接联系宝马bm555线路关于宝马bm555线路:宝马bm555线路是光电产品专业代理商,产品包括各类激光器、光电调制器 ...
择所需的散射光偏振分量。所述分析仪的角度设置为使具有特定偏振的光子通过;由于光栅光谱仪的吞吐量可以产生显著的偏振依赖性,从而使信号的偏振依赖性发生显著扭曲,因此采用半波片来保持进入光谱仪的信号的偏振方向相对于光栅槽方向不变。由于大多数光学元件都有一定程度的偏振依赖性,因此在设计光学系统时必须谨慎,以获得准确的结果。例如,由于s偏振和p偏振的反射率不同,入射到镜子上的光应该是纯s偏振或p偏振,以避免由于反射而引入椭圆偏振。即使如此小心,也不能完全排除光学元件的退极化效应。物镜的高数值孔径也会导致小的退极化效应。虽然这些影响通常很小,可以忽略不计,但如果需要以更高的精度分析偏振依赖性,则需要基于S ...
是伴随着激发光偏振态的改变,而该偏振态的改变取决于起偏偏振方向与半波片快轴的夹角,所以光路中还放置了起偏器和检偏器以及偏振态改变装置--半波片,起偏器和半波片放置在二向色镜前,检偏器放置在光谱仪前。起偏器将激发光起偏,半波片将线偏激发光转变为特定角度的线偏振光,检偏器则检测激发出来的二次谐波的偏振状态。如果不通过半波片改变激光的偏振态,可通过另一种方法。入射激光的偏振方向在空间保持不变,将待测样品放置在一个可旋转的载物台上,随着样品台的旋转,样品在空间上也旋转了该角度,因此入射激光的偏振方向角相对于样品也同步发生了变化。但是该方法需要将样品放置在载物台的中心位置,且载物台旋转时需要把控速度,否 ...
如,通过诉诸光偏振、波长和入射角,以及不同的空间复用方案,已经有实现不同功能的大量多功能超表面得到报道。但是这些多功能超表面仅在一个操作空间有效,即要么透射空间或反射空间。能够独立控制透射和反射空间中的光的光学器件对于构建超紧凑光学系统具有重要意义。这是最近基于多层超表面实现的。据报道,四层金属贴片可以协同实现偏振相关的透射/反射控制,通过精心设计使全空间内的独立光波前控制成为可能。基于类似的原理,通过同时选择入射方向和光偏振,五层等离子体超表面被证明可以产生三个波前操作。值得注意的是,这些实现了多功能全空间光控制的超表面主要在微波波段,且使用印刷电路板技术制备。然而,考虑到金属的固有吸收损耗 ...
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