SCMOS相机 光束分析仪 DMD 光纤束 合束激光器 共焦 拉曼光谱仪 锁相放大器 无掩膜光刻机 高光谱相机
您对搜索结果满意吗?
电推出的紫外波前分析仪基于四波剪切干涉的原理。四波剪切干涉技术克服了传统哈特曼传感器的局限性,可以直接检测汇聚的激光,同时获得相位时需要的像素点大大减少,从而具有高分辨率、高灵敏度和宽动态范围,消色差等优势。AUT-SID4-UV-HR紫外波前分析仪由高分辨率的相机和二维衍射光栅构成,激光通过光栅后,待检测的激光波前分成四束,两两进行干涉,对干涉条纹进行傅里叶变换,提取一激光的信息和零级光的信息,利用傅立叶变换进行相关的计算,计算出待测波前的相位分布,以及强度分布等。波前分析仪在半导体领域的应用:半导体行业的光刻系统依赖于ji其复杂的激光源和光学系统。Phasics公司SID4 系列波前传感器 ...
Phasics波前分析仪生物学家关注显微镜时最重要的问题之一是大多数生物标本的振幅对比度差。 因此,生物学家经常采用相衬光学技术,该技术依靠光学机制将样本中的微小折射率变化转换为实际图像中相应的幅度变化。 这种技术的主要优点是活细胞可以在其自然状态下进行检查,而无需事先被杀死、固定和/或染色。 Zernike contrast 允许样品界面的可视化,但横向分辨率相对较差,并且伪影的出现妨碍了任何正确的定量相位测量。Nomarski 对比(或 DIC 用于微分干涉对比)显微镜是一种更流行的相位成像技术,可在一个方向上提供样品相位梯度。图像呈现的输出强度是振幅和相位梯度对比与对样本中光路长度梯度的 ...
ascis的波前分析仪可以作为测量折射率变化的高精度计量仪器。准确测量折射率变化,对于生产光子器件的开发、优化和质量监控是必要的。作为一种非破坏性测量方法,QPI可提供精确的波导折射率分布。SID4成像系统适用于测量光纤或激光写入波导。集成在光学显微镜Phascis定量相位成像(QPI)相机安装在经典明场显微镜上,并且无需修改显微镜。Phasics输出的相位图可以轻易的转化为折射率,如下所示,OPD=(n2-n1)*d,其中n2和n1分别是周围材料的折射率,并且波导和d是折射率变化区的厚度。光波导测量结构波导成像可以在两种不同装置中完成:在XY或者正交平面。Phascis定量相位相机测量波导产 ...
asics的波前分析仪能够与实验室常用的相机一样易于集成。整个相机可以轻松集成到生产线或者实验室中。表面测量结构Phasic SID4相位相机利用的是一种四波横向剪切技术,将入射光分成剪切的4束,然后再互相干涉形成干涉图,通过傅立叶逆变换可以得到入射光的相位谱和强度信息,这是一种消色差的技术,因此白光和LED光源非常适合。此外,可以使用任何显微镜进行测量,并且不依赖于偏振。如上图光路所示,SID4相机位于被测物体的成像面进行探测,使用简单。SID4相位成像相机可以集成在商业反射显微镜或专用光学系统上。SID 和 AFM 测量比较图中红线部分是Phasics测量结果,黑线位AFM测量结果。使用A ...
Kaleo套件-模块化计量解决方案随着光学系统复杂性的增加,计量团队通常需要特定的测量参数(测试波长、精度、分辨率、相关结果……)。 PHASICS⽤Kaleo Kit解决了这⼀挑战,它是⽤于光学鉴定的模块化系统。Kaleo 套件是各种兼容模块的组合,可让您创建经济⾼效、紧凑且易于使⽤的系统,它可以适应⼴泛的测量配置,并确保样品在开发的所有阶段满足质量要求。⼀次采集即可获取样品的所有参数:TWE、RWE、波前像差、MTF、PSF 等等。一、Kaleo Kit的选型只需要3个步骤1.选择您的波前传感器2.选择您的R-cube,波长(nm)36540553062574078081085094010 ...
横向剪切干涉仪的原理四波横向剪切干涉仪目前主流的波前传感器有:哈特曼传感器,夏克哈特曼传感器和四波横向剪切干涉仪。1900年,测量激光相位,采用哈特曼传感器,即在相机前加一个遮罩,遮罩上的每个小孔,光通过小孔后得到光束的方向。1970年,夏克哈特曼传感器将小孔替换成微透镜聚焦,提高了光的利用效率。2000年,四波横向剪切干涉仪倍发明出来,它采用一个相位光栅,产生四个衍射光束,他们之间相互干涉产生条纹后,从干涉途中提取相位图。相位光栅一个棋盘型的光栅,光栅的相位分别是0和π,那么这个相位光栅可以简写成或者记作的卷积,依据傅里叶变换和卷积的性质,只要分别求得两项的傅里叶变换式,然后相乘这一项仍旧是 ...
成像光学设计必须校正光学系统的像差,但既不可能也不需要把像差校正到完全理想的程度,因此需要选择像差的最佳校正方案,也需要确定校正到怎样的程度才能满足使用要求,即确定像差容限。这两方面都属于光学系统质量评价问题,它对光学设计者具有重大指导意义。一般而言,有以下几种评价光学系统质量的标准。1.斯特列尔判断2.瑞利判断3.分辨率4.点列图5.光学传递函数我们接下来一一进行介绍。一、斯特列尔判断光学系统有像差的时候,衍射图样中中心亮斑(即艾里斑)占有的光强度比理想成像的时候要低,这两者的光强度之比称为Strehl强度比,又称为中心点亮度,以S.D.表示。Strehl判断认为,中心点亮度S.D.> ...
关于哈特曼传感器的原理的介绍及相位恢复方法哈特曼传感器是在相机前放置一个微透镜阵列组成。光束经过每个微透镜后都会聚焦在一点,聚焦点的位置被能够反应出光束的方向,然后反推出光的波前信息。下面的内容是模拟光束经过透镜后聚焦的过程,然后简单的叙述了两种相位恢复的算法。模拟步骤1. 构建相位面,获取焦面上的图像,计算斜率2. 重建波前方法分为两种,一种是区域法,一种是模型法。3. 对比重构之后的相位和输入的相位面,对比结果构建相位面,计算质心,获取斜率1、构建相位面数字化处理的方式多是无量纲的数据,因此默认量纲为a,假设为1um。一个连续的光斑,光强和相位面是连续的,这里将它离散,变成一个二维矩阵,单 ...
波前传感器(波前分析仪)是自适应光学系统最重要的组成部件之一,决定了自适应光学系统最终的调制结果。同时波前探测器在激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统的波前像差检测,虹膜定位像差引导,大口径高精度光学元器件检测,平行光管/望远镜系统的检测与装调,红外、近红外探测,激光光束性能、波前像差、M^2、强度的检测,高精密光学元器件表面质量的检测等领域发挥着越来越重要的作用。法国PHASICS公司研发团队,突破传统技术的壁垒,成功研发出了世界上分辨率最高的四波剪切干涉技术波前探测器。本文简单介绍了波前传感器的原理和典型应用,以及四波剪切干涉技术原理,比较了剪切干涉技术的波前分析仪与传统哈特曼传感器 ...
介绍下这几款波前分析仪:1.SID4-SWIR近红外(900-1700nm)波前传感器图1SID4-SWIR波前分析仪SID4-SWIR近红外(900-1700nm)波前传感器产品特点:高相位分辨率:160x128 or 80x64高重复度:<2nm RMS高测量精度:15nmRMS 工作波段:900-1700nm高灵敏度:可适用于低功率红外光源测试瞬时相位测量,对振动不敏感可接受非准直光入射,光路搭建简易快捷2.SID4-DWIR红外(3-5um & 8-14um)波前分析仪图2 SID4-DWIR波前分析仪SID4-DWIR红外(3-5um & 8-14um)波前分析 ...
各位老师,各位同学,各位光电行业的家人宝子们!最近还好吗?希望大家阴的继续阴,阳的无症状!2022年即将进入尾声,为了感谢您对宝马bm555线路一直以来的关注与支持,我们收集了几十款产品进行了促销活动!来看看里面是否有您正好需要的设备吧~暂时没需求?下面扫码填表 可以意向先登记,优惠先保留,试用先安排,感兴趣产品数据单先了解!参与方式:识别下方二维码,凭意向表单填写记录即可享受下述对应优惠!填表也可同时获取意向产品数据单!凭提交成功界面的抽奖码,还有机会获得千元大奖一份!(获奖号码将于2023.1.21公众号文章内公布,尽请关注!)具体产品活动详情如下所示:免费测试试用+折扣 ...
法国Phasics与先进红外光学设备生产商HGH联合录制了关于大口径离轴平行光管的波前检测演示。该演示将于12月8日下午进行网络直播。报名即可获得精美礼品一份,昊量诚邀您关注收看!○研讨会主题:大口径离轴平行光管的高分辨率波前检测○研讨会时间:2022年12月08日(星期四) 北京时间 17:00○研讨会主讲嘉宾:○研讨会流程:① Phasics 波前计量解决方案概述;② 检测光路介绍;③ 400 mm 口径离轴平行光管对准演示;④ HGH产品应用;⑤ 总结及问答。○研讨会报名方式:扫描下方二维码填表报名(同时也可以免费预约试用)*报名成功后,可获得精美礼品一份!更多详情请联系宝马bm555线路/欢迎直 ...
镜,高灵敏度波前分析仪,完整的自适应光学闭环系统。所有的这些产品都已经 被广泛应用于各种领域,包括:天文学、眼科、显微镜、无线光通信和激光领域。5月21日-26日,作为法国Alpao公司中国授权代理商,宝马bm555线路销售及技术支持工程师拜访位于法国格林诺贝尔的Alpao公司,Alpao技术人员对其进行了为期一周的技术培训。整个培训研讨会由自适应基础理论培训、Alpao变形镜及波前分析仪产品原理培训、产品应用培训,光路搭建,产品调试,以及二次开发,数据处理等七部分内容组成。通过本次培训,宝马bm555线路销售及技术人员加深了对Alpao产品、自适应光学的认识,大大提升了针对对Alpao产品的硬件搭建,软件操作、 ...
波前传感器/波前分析仪【SID4-UV-HR简介】随着光波波前探测技术的发展,各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类:一类是根据几何光学原理,测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。作为低可至波长250 nm的高分辨率波前传感器,SID4-UV-HR非 ...
波前传感器/波前分析仪【SID4-UV波前分析仪简介】随着光波波前探测技术的发展,各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类:一类是根据几何光学原理,测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。SID4-UV波前分析仪是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。SID4-UV波前分析仪作为低可至波长250 ...
SID4-UHR 大口径超高分辨率波前传感器【SID4-UHR 简介】SID4-UHR超高分辨率波前传感器可用于光学计量需求。 它结合了SID4的易于光路搭建的特点,并拥有超高分辨率及相位精度。 SID4-UHR超高分辨率波前传感器的大口径传感器靶面可以实现对整个被测样品的实时波前测量。 SID4-UHR的产品特性使其非常适用于表面面型的检查(表面粗糙度、高频率波前像差及表面缺陷检测等)和光学组件的表征(镜头、物镜、非球面和自由曲面光学等)。 SID4-UHR超高分辨率波前传感器搭载高性能相机,也可提供无与伦比的激光表征精度。 高达512 x 512(可选高至666 x 666)相位取样分辨率 ...
传感器 / 波前分析仪【SID4-HR 简介】随着光波波前探测技术的发展,各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类:一类是根据几何光学原理,测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。SID4-HR为要求苛刻的波前测量应用带来超高相位分辨率(400 x 30 ...
波前传感器/波前分析仪【SID4简介】随着光波波前探测技术的发展,各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类:一类是根据几何光学原理,测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。作为入门级的高分辨率波前传感器,SID4覆盖可见光和近红外范围,是适用于各种激光或 ...
真空兼容高分辨率波前分析仪 法国Phasics创造性的推出了市面上首款真空兼容的高分辨率波前分析仪SID4-V。SID4-V波前传感器的独特设计使其可在真空环境下(10-6mbar)实现激光波前/激光等离子体/电子密度等的测量,获得更准确的测量结果。波前分析仪产品特点:1)真空环境兼容:>10-6mbar2)分辨率高:160x1203)宽波段:400-1100nm4)软件功能:包含激光波前和Plasma检测模块5)可直接测量发射光束:NA值0.2波前分析仪指标参数: ...
传感器 / 波前分析仪【SID4-SWIR 简介】随着光波波前探测技术的发展,各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类:一类是根据几何光学原理,测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。SID4-SWIR波前传感器将Phasics的四波剪切技术与InGaA ...
显示更多
或 投递简历至: hr@auniontech.com