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磁光克尔显微镜深度灵敏度的实验证明金属材料的磁光显微镜(有限制地)是深度敏感的。以下三张图显示了典型金属多层体系的畴图像和磁化过程,证明了这一事实。所有图像都是在纵向克尔效应下获得的,使用标准显微镜设置,即设置分析器和补偿器以获得良好的对比度,而不考虑层选择性。在图1中,对13 nm金属材料覆盖的自旋阀层堆栈的散列钴膜的磁化过程进行了成像。尽管有覆盖层,铁磁薄膜中的畴仍然清晰可见。另一层铁磁性的NiFe/Co双分子层在较低的深度被光传输,对克尔信号的贡献更强。然而,在施加磁场时,它的强度几乎降低了两个数量级,因此在显示图像的过程中是饱和的。图1.克尔显微镜上的旋转阀曲径的GMR传感器应用。如图 ...
的对比规律和深度灵敏度。梯度效应也可以很好地应用于图像精细过渡和域调制。图1图1比较了Kerr效应、Voigt效应和梯度效应之间的现象差异。在不同条件下,在光学偏光显微镜下对具有两个正交磁化轴的铁硅晶体的典型畴图进行了成像,如图所示。在每种情况下,通过选择适当的入射光和通过正确设置显微镜中的偏光器,分析器和补偿器来产生对比度。克尔效应在磁化矢量上是线性的,因此图1中的四个畴相以不同的颜色显示。在V光效应中成像的相同图案只显示两种颜色,每个磁化轴一种。这种对比是独立于磁化方向,因为V光效应取决于二次磁化矢量。梯度效应对磁化强度的变化很敏感。因此,在这种效应中,畴边界的出现取决于邻近畴的相对磁化方 ...
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