解释
中文：原子力显微镜；英文：atomic force micro-scope / AFM的原理；中文：原子力显微镜；英文：atomic force micro-scope / AFM的定义；中文：原子力显微镜；英文：atomic force micro-scope / AFM是什么。
利用一端固定而另一端装有纳米级针尖的弹性微悬臂与样品表面的原子之间产生极其微弱的相互作用（如机械接触力、范德瓦耳斯力或静电力等）引起的微悬臂梁的弯曲变形来检测样品表面形貌与物理特性的显微镜。属于非光学显微镜。其成像模式分为接触模式 （contact mode）、非接触模式（non-contact mode）和轻敲模式（tapping mode）等。
